Избранное
ЭБ Нефть
и Газ
Главная
Оглавление
Поиск +
Еще книги ...
Энциклопедия
Помощь
Для просмотра
необходимо:


Книга: Главная » Валь А.N. Использование радиоактивности при химических исследованиях
 
djvu / html
 

Условия, в которых ставились опыты близко соответствовали граничным условиям, для которых было выведено уравнение. Это выражалось в том, что радиоактивные атомы первоначально были сконцентрированы в очень тонком слое на поверхности кристалла, причем толщина последнего была значительно больше пути диффузии радиоактивных атомов. Поэтому для вычисления коэффициента диффузии, исходя из зависимости между концентрацией меченых атомов и измеряемой-активностью, можно воспользоваться уравнением. Если меченые атомы диффундируют в кристалл на расстояние, не превышающее максимальную длину пробега испускаемых ими-частиц в кристалле, то такая зависимость выражается уравнением
Здесь А означает а-активность в импульсах в минуту меченых атомов, находящихся на расстоянии х от поверхности, С концентрация меченых атомов на расстоянии х и а константа, включающая постоянную радиоактивного распада и поправочный коэффициент измерительной установки. Множитель
выражает отношение числа а-частиц, испускаемых в направлении, в котором они проходят через поверхность кристалла до торможения, ко всему числу испускаемых а-частиц. Наблюдаемая начальная активность поверхности, А, дается выражением
причем С имеет то же значение, что и в уравнении. Подставив уравнения и в уравнение и интегрируя, получают следующее выражение для наблюдаемой величины активности поверхности после нагревания:
Уравнение может быть решено графическим путем и вычислено по уравнению.
Если между поверхностью кристалла и счетчиком находится слой воздуха, то в качестве пределов интегрирования в уравнении следует взять и где толщина кристалла, обладающего той же поглощающей способностью, что и данный слой воздуха. Уравнение остается в силе и для этого случая, если принять, что
Для того чтобы-частицы не попадали в прибор для подсчета активности, Хевеши и Зейтц располагали его так, что между ним и поверхностью кристалла имелся слой воздуха толщиной в см. При этих условиях на сцинтилляционный экран попадали только а-частицы максимальный пробег в воздухе которых составляет см. Это значительно упрощало вычисления, поскольку можно было ограничиться рассмотрением ос-частиц, имеющих одинаковую длину пробега.

 

1 10 20 30 40 50 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 80 90 100 110 120 130 140 150 160 170 180 190 200 210 220 230 240 250 260 270 280 290 300 310 320 330 340 350 360 370 380 390 400 410 420 430 440 450 460 470 480 490 500 510 520 530 540 550 560


Аналитическая химия. Хроматография. Анализы нефтепродуктов в промышленности - Учебники. Справочники